用于檢測內嵌于產品中的磁性及非磁性金屬雜質，符合制藥法規（0-800kHz可調頻率）
用于片劑除塵、拋光、上料及金屬異物分離
用于膠囊的除塵、拋光、上料、分選及金屬異物分離，符合制藥法規
用于片劑除塵、拋光、去飛邊和上料
用于膠囊的除塵、拋光、上料及分選，符合制藥法規
用于檢測分離粉狀及顆粒狀物料中的金屬雜質，符合制藥法規（0-800kHz可調頻率）
